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測(cè)試介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品說(shuō)明
測(cè)試介質(zhì)損耗測(cè)試儀因數(shù)在預(yù)防性試驗(yàn)中的項(xiàng)目。因?yàn)殡姎庠O(shè)備介質(zhì)損耗因數(shù)太大,會(huì)使設(shè)備絕緣在交流電壓作用下,許多能量以熱的形式損耗,產(chǎn)生的熱量將升高電氣設(shè)備絕緣的溫度,使絕緣老化,甚至造成絕緣熱擊穿。
絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數(shù)的增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因,如:絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。
所以,在出廠試驗(yàn)時(shí)要進(jìn)行介質(zhì)損耗的試驗(yàn),運(yùn)行中的電氣設(shè)備亦要進(jìn)行此種試驗(yàn)。測(cè)量介質(zhì)損耗的同時(shí),也能得到試品的電容量。電容量的明顯變化,反映了多個(gè)電容中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路。
介質(zhì)損耗測(cè)試儀在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量電介質(zhì)的損耗。
當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。
tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx)。
標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。
上海蘇霍通過(guò)測(cè)量變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
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