更新時間:2024-05-04
介質(zhì)損耗測試儀標準回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成,由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差,并算出被測試品電容容值(CX)和介質(zhì)損耗(tgδ)。
產(chǎn)品簡介:
SHJS-A高壓介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。介損測試儀淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優(yōu)點,是我廠的第三代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。
技術指標:
1、試驗環(huán)境溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免長時間日照)
2、相對濕度:20%~80%
3、供電電源:電壓:220V±10%,頻率50±1Hz
4、外形尺寸:長*寬*高=470mm*320mm*360mm
5、重量:18kg
6、輸出功率:1.5KVA
7、顯示分辨率:3位、4位(內(nèi)部全是6位)
8、測試方法:正接法、反接法、外接試驗電壓法
9、測量范圍:內(nèi)接試驗電壓:
tgδ:99.9%
Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF
10KV Cx<60000 pF
5KV Cx<80000 pF
2.5KV Cx<0.3uF
外接試驗電壓:由外接試驗變壓器輸出功率而定
10、基本測量誤差:介質(zhì)損耗(tgδ):1%±0.09%
電容容量(Cx):1.5%±1pF
11、分辨率: tgδ:0.01% Cx :0.1pF
介質(zhì)損耗測試儀工作原理:
儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路,如圖所示。
標準回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成,由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差,并算出被測試品電容容值(CX)和介質(zhì)損耗(tgδ)。
數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件,采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽,儀器外殼接地屏蔽;另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術,加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理,使測量結果穩(wěn)定、精確、可靠。
產(chǎn)品別稱:
智能介質(zhì)損耗測試儀、變頻介質(zhì)損耗測試儀、介損測試儀、抗干擾介損測試儀、全自動介損測試儀、異頻介損測試儀、異頻介質(zhì)損耗測試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測試儀、全自動介質(zhì)損耗測試儀、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。
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