方法概述
1、SF6 氣體濕度的測(cè)量
對(duì)于SF6 氣體濕度的測(cè)量，常用的方法有鏡面法、重量法、庫侖電解法、電容法等，*、二種方法對(duì)環(huán)境條件要求比較高，測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng)，怕污染等，一般只用作仲裁分析；第三種方法測(cè)量時(shí)耗氣量較大、怕污染，測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng)等，智能SF6微水儀技術(shù)參數(shù)使用時(shí)設(shè)備要提前一天通電通氣干燥，而且重復(fù)性差。第四種方法也就是目前采用zui多的方法，由于它測(cè)量時(shí)間短、耗氣量小、不怕污染等優(yōu)點(diǎn)。
 

2.H2 濕度的測(cè)量
通常測(cè)量方法有通風(fēng)干濕球法、庫侖電解法，*種方法受環(huán)境溫度、濕度影響較大，測(cè)定值偏高；第二種方法除具前述缺點(diǎn)外，還怕染等。
基于上述原因，我們?cè)谖諊?guó)內(nèi)外一些生產(chǎn)濕度儀廠家的*技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上，進(jìn)行了創(chuàng)新，開發(fā)出具有國(guó)內(nèi)水平

智能SF6微水儀技術(shù)參數(shù)重要性

水份是影響絕緣老化的一個(gè)重要因素，含水量過高，會(huì)使絕緣材料的絕緣性能下降并加速其老化，從而導(dǎo)致運(yùn)行設(shè)備的可靠性降低，壽命縮短。電氣設(shè)備內(nèi)部水分的主要來源：（1）外部侵入；（2）本身產(chǎn)生的。*種情況是由于設(shè)備在制造、運(yùn)輸、安裝過程中，保護(hù)措施不當(dāng)所引起的。第二種情況是由于設(shè)備在運(yùn)行過程中絕緣介質(zhì)的氧化及裂解而產(chǎn)生的水分。
對(duì)于氫冷機(jī)組來說，氫氣濕度高是影響發(fā)電機(jī)安全運(yùn)行的主要因素之一，隨著大容量、高參數(shù)機(jī)組的不斷投產(chǎn)，國(guó)內(nèi)已發(fā)生多起因氫氣濕度超標(biāo)而燒毀發(fā)電機(jī)組的惡性事故。傳統(tǒng)測(cè)濕儀的參數(shù)測(cè)定準(zhǔn)確已無法保障設(shè)備的安全運(yùn)行，不能滿足電力系統(tǒng)的需要。